M10132是集观察+测量+记录于一体的显微系统，将立体显微镜、金相显微镜、测量显微镜 等多种设备合为一体，通过自动照明观测，电动平台到功能齐全的用户界面，真正意义上实现了从宏观尺度的成像到微观尺度的详细测量。

特点: 以光学聚焦为测量原理, 采用高精度光学检测方式进行精密尺寸测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态, 对高度，长度，直径，周长等进行测量。放大倍数高，适合精密产品的测量，也可以当作高倍显微镜使用。

用途：适用于硅片、材料腐蚀、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨抛、化学处理的工件表面的金相组织结构，几何形状进行显微观测。并且有XYZ三个方向的测量功能。是精密零件，集成电路，半导体芯片，光伏电池，光学材料等行业的适用仪器。